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GBT 17554.1-2006 識(shí)別卡 測(cè)試方法 第1部分一般特性測(cè)試
IC卡翹曲度測(cè)試儀
測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)參考：ISO7810、10373-1和 GBT 17554.1-2006
CQM測(cè)試儀器參照：CQM UHTM-410 IC卡翹曲度測(cè)試儀
5 測(cè)試方法
5.1 卡翹曲
該 測(cè) 試 的目的是測(cè)量卡的翹曲程度(見(jiàn)GB/T 14916-2006).
5.1.1 儀器
zui 小 精 度為0.0 1m m的輪廓投影儀或類(lèi)似的測(cè)量設(shè)備。
5.1.2 規(guī)程
在 測(cè) 試 之前按照4.2對(duì)卡進(jìn)行預(yù)處理，并在4.1定義的環(huán)境下進(jìn)行測(cè)試。
將 卡 放 在測(cè)量?jī)x器的水平剛性平臺(tái)上。至少卡的三個(gè)角應(yīng)擱置在該平臺(tái)上(卡翹曲與平臺(tái)成凸
形)。從卡的正面測(cè)量，在測(cè)量設(shè)備上讀出zui大偏移點(diǎn)處的翹曲值(見(jiàn)圖1).
注 : zui 大偏 移點(diǎn)不一定在卡 的中心
5.1.3 測(cè)試報(bào)告
測(cè) 試 報(bào) 告應(yīng)給出zui大偏移點(diǎn)處所測(cè)得的翹曲值。
5.2 卡的尺寸
本測(cè) 試 的 目的是測(cè)量卡的高度、寬度和厚度(見(jiàn)GB/T 14916-2006)
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